超高真空中で磁性薄膜等を作成し、in situ磁気光学Kerr効果による評価、ならびに、紫外レーザー磁気円二色性光電子顕微鏡(UV MCD PEEM)によるナノ磁気構造評価を行う。

仕様

超高真空下での磁性薄膜作成・磁気光学Kerr効果によるその場観察評価。紫外レーザー磁気円二色性光電子顕微鏡も利用可

担当者

横山利彦教授[ yokoyama@ims.ac.jp ]
小板谷貴典助教[ koitaya@ims.ac.jp ]
0564-55-7345(横山)

[支援形態/単価]


成果
公開
大学
官公庁
協力研究 無料
施設利用

技術代行
民間 施設利用 要相談
技術代行
所内※ 施設利用
成果
非公開
民間 施設利用 要相談
技術代行

  −: 支援なし