粉末試料にX 線を照射し、回折されたX 線の角度および強度を測定する。主な利用法は定性分析(同定)である。既知試料の回折パターン(PDF:Powder Diffraction File)と照合することで測定試料の同定を行う。その他にも、ピークの有無や強度による結晶性や配向評価、ピーク幅による結晶子サイズ評価、小角領域の測定による粒子径の評価などにも用いられる。また測定精度によっては未知構造解析も可能である。

仕様
メーカー
Rigaku
型式
RINT-UltimaIII
導入年度
平成17年度

(主な仕様)

X-ray
Cu(40 kV、40 mA)
Optics
Parallel Beam
Bragg-Brentano
Small Angle X-ray Scattering
Detector
Scintillation Counter
Option
Monochromator
Hi-res PSA
Rotation stage
Capillary stage
SAXS stage
Low temperature stage(40〜300 K)
Software
PDXL
Nano-Solver
  • 利用するには、放射線業務従事者登録が必要です。
担当者

解良聡センター長
藤原基靖技術職員[ fujiwara@ims.ac.jp ]
0564-55-7476(藤原)

[支援形態/単価]


成果
公開
大学
官公庁
協力研究
施設利用 無料
技術代行
民間 施設利用 500円/時間
技術代行
所内※ 施設利用 100円/時間
成果
非公開
民間 施設利用 1000円/時間
技術代行

  ※: 所外研究者を含む場合は、無料
  −: 支援なし