物質にX線を照射すると、物質を構成する元素固有のエネルギー(波長)を持つ蛍光X線(特性X線)が発生する。この蛍光X線のエネルギーを測定することにより、測定物質を構成する元素の分析(定性分析)を行うことができ、またそのエネルギーのX線強度から目的元素の濃度を求める(定量分析)ことができる。蛍光X線分析装置とは、対象となる試料にX線を照射し、そこから発生する蛍光X線のエネルギーを測定することで、試料を構成する元素の種類や濃度を判断するために用いる装置である。この装置の大きな特徴として、対象試料の範囲が広く、固体・液体・粉末など種々の形態で測定が可能であること、非破壊分析であること、測定作業が簡便で短時間で分析を行えることが挙げられる。 応用範囲は多岐にわたり、金属、鉱物の組成分析の他、食品分析や土壌分析、環境分析でも利用されている。

仕様
メーカー
JEOL
型式
JSX-3400RII
導入年度
平成20年度

(主な仕様)

検出元素範囲
Na 〜 U
X線発生装置
5〜50 kV、1 mA、50 W
ターゲット
Rh
フィルタ
4種自動交換(オープン含む)
コリメータ
1 mmφ/ 3 mmφ/ 7 mmφ
検出器
Si(Li)半導体検出器
試料室サイズ
300 mm(φ) x 150 mm(H)
試料室雰囲気
大気または真空
  • 利用するには、放射線業務従事者登録が必要です。
担当者

解良聡センター長
上田正技術職員[ ueda@ims.ac.jp ]
0564-55-7470(上田)

[支援形態/単価]


成果
公開
大学
官公庁
協力研究
施設利用 無料
技術代行
民間 施設利用 1000円/日
技術代行
所内※ 施設利用 100円/時間
成果
非公開
民間 施設利用 2000円/日
技術代行

  ※: 所外研究者を含む場合は、無料
  −: 支援なし