超高真空中で磁性薄膜等を作成し、in situ磁気光学Kerr効果による評価、ならびに、紫外レーザー磁気円二色性光電子顕微鏡(UV MCD PEEM)によるナノ磁気構造評価を行う。

超高真空下での磁性薄膜作成・磁気光学Kerr効果によるその場観察評価。紫外レーザー磁気円二色性光電子顕微鏡も利用可

横山利彦教授［ yokoyama@ims.ac.jp ］
小板谷貴典助教[ koitaya@ims.ac.jp ]
山本航平助教
0564-55-7345（横山）

［支援形態／単価］

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