金属錯体の設計、合成、構造解析および物性評価を支援する。光学特性および電気化学特性の評価が可能である。

金属錯体の設計、合成、構造解析
光学特性評価、電気化学特性評価

単結晶X線構造解析装置
リガク社製
X線源：RA-Micro7HFM（1.2kW ローター）
検出器：高速検出器 HyPix6000HE

草本哲郎准教授［ kusamoto@ims.ac.jp ］
松岡亮太助教
0564-59-5520

［支援形態／単価］

成果 公開	大学 官公庁	協力研究	無料
		施設利用	−
		技術代行	−
	民間	施設利用	要相談
		技術代行
	所内	施設利用	−
成果 非公開	民間	施設利用	要相談
		技術代行

　　−：　支援なし