金属錯体の設計、合成、構造解析および物性評価を支援する。光学特性および電気化学特性の評価が可能である。

仕様

金属錯体の設計、合成、構造解析
光学特性評価、電気化学特性評価


単結晶X線構造解析装置
リガク社製
X線源:RA-Micro7HFM(1.2kW ローター)
検出器:VariMax with R-AXIS RAPID II (IP)

担当者

草本哲郎准教授[ kusamoto@ims.ac.jp ]
0564-59-5520


[支援形態/単価]


成果
公開
大学
官公庁
協力研究 無料
施設利用

技術代行
民間 施設利用 要相談
技術代行
所内 施設利用
成果
非公開
民間 施設利用 要相談
技術代行

  −: 支援なし