粉末試料にX 線を照射し、回折されたX 線の角度および強度を測定する。主な利用法は定性分析（同定）である。既知試料の回折パターン（PDF：Powder Diffraction File）と照合することで測定試料の同定を行う。その他にも、ピークの有無や強度による結晶性や配向評価、ピーク幅による結晶子サイズ評価、小角領域の測定による粒子径の評価などにも用いられる。また測定精度によっては未知構造解析も可能である。

メーカー

Rigaku

型式

RINT-UltimaIII

導入年度

平成17年度

（主な仕様）

X-ray

Cu（40 kV、40 mA）

Optics

Parallel Beam
Bragg-Brentano
Small Angle X-ray Scattering

Detector

Scintillation Counter

Option

Monochromator
Hi-res PSA
Rotation stage
Capillary stage
SAXS stage
Low temperature stage（40〜300 K）

Software

PDXL
Nano-Solver

• 利用するには、放射線業務従事者登録が必要です。

横山利彦センター長
藤原基靖主任技術員［ fujiwara@ims.ac.jp ］
宮島瑞樹技術員
0564-55-7476（藤原）

[設置場所：山手3号館1階X線回折測定室]

［支援形態／単価］

成果 公開	大学 官公庁	協力研究	−
		施設利用	無料
		技術代行	−
	民間	施設利用	2900円/時間
		技術代行	−
	所内	施設利用	無料
成果 非公開	民間	施設利用	5700円/時間
		技術代行	−

　　　　−：　支援なし