測定する物質がどの程度光を吸収するかを波長分布として測定する装置である。実際は、透過率を測定しソフトウエアで計算によって吸光度を求めており、物質の同定や性質、あるいは濃度(定量分析)を調べることができる。付属装置によって、半導体・薄膜・ガラスやフィルムなどの固体試料の反射率・透過率測定ができる。
(主な仕様)
横山利彦センター長
上田正技術員 [ ueda@ims.ac.jp ]
0564-55-7470(上田)
[設置場所:共同研究棟A棟002]
[支援形態/単価]
成果 公開 |
大学 官公庁 |
協力研究 | − |
施設利用 | 無料 | ||
技術代行 | − | ||
民間 | 施設利用 | 1000円/時間 | |
技術代行 | − | ||
所内 | 施設利用 | 無料 | |
成果 非公開 |
民間 | 施設利用 | 1900円/時間 |
技術代行 | − |
−: 支援なし