• ホーム  >>  電解放射走査電子顕微鏡

高輝度で高い干渉性の電子線が得られるフィールドエミッション電子銃(FEG)を搭載した電子顕微鏡。
ナノスケールオーダーの超高分解能の像観察や分析が可能。
エネルギー分散型 X線分析装置(EDS)による微小部の元素分析、組成マップを測定が可能。
STEM機能により走査透過像測定が可能。

仕様
メーカー
JEOL
型式
JEM-2100F
導入年度
平成15年度

(主な仕様)

電子銃
フィールドエミッション
加速電圧
200 kV
照射電流
0.23nm(粒子像)、0.1 nm(格子像)
倍率
X2,000 ~ X1,500,000
試料
3mmφ以内
担当者

横山利彦センター長
伊木志成子特任専門員 [ ishina@ims.ac.jp ]
上田正技術職員
売市幹大技術職員

0564-55-7428(伊木


[設置場所:山手3号館1階TEM室]



[支援形態/単価]

 

成果
公開
大学
官公庁
協力研究
施設利用 無料
技術代行
民間 施設利用
技術代行
所内 施設利用 無料
成果
非公開
民間 施設利用
技術代行

    -: 支援なし