試料にX線を照射し、回折・反射・散乱されたX線を観測することで、化合物の同定・定量・配向性、薄膜の膜厚・粗さ、粒径・空孔径分布などの情報が得られる。本装置では、各種ミラー・ステージ・オプションにより、様々な測定に対応可能である。
※初めて申請される方は、事前に担当者までお問い合わせ下さい。

メーカー

Panalytical

型式

Empyrean

導入年度

令和１年

（主な仕様）

X-ray

Cu：45 kV、40 mA
Mo：60kV、40mA

Optics

Cu：BBHD、Focusing Mirror、Hybrid Monochro2xGe(220)、Lens
Mo：Focusing Mirror、Hybrid Monochro2xGe(220

Detector

Prop(0D)、GaliPIX3D(1D,2D)、PIXcel3D 2x2(0D,1D,2D)

Stage

Ref/Trans Spinner、3-axes(Chi-Phi-Z) Cradle ＋X-Y translation、Capillary Spinner

Option

DCS500(-180～500 ℃)[ref]、HTK1200N(RT～1200 ℃)[ref,trans]、ScatterX78[trans]

Software

Data Collector、HighScorePlus、XRD 2D Scan、AMSS、EasySAXS、PDF Databases(PDF-4+)

• 利用するには、放射線業務従事者登録が必要です。

横山利彦センター長
小林玄器准教授 [ gkobayashi@ims.ac.jp ]
竹入史隆助教
藤原基靖技術員 ［ fujiwara@ims.ac.jp ］
宮島瑞樹技術員
0564-55-7476（藤原）

[設置場所：実験棟210]

［支援形態／単価］

成果 公開	大学 官公庁	協力研究	無料
		施設利用	無料
		技術代行	−
	民間	施設利用	31000円/日
		技術代行	−
	所内	施設利用	無料
成果 非公開	民間	施設利用	62000円/日
		技術代行	−

　　　　−：　支援なし