• ホーム  >>  オペランド多目的X線回折

試料にX線を照射し、回折・反射・散乱されたX線を観測することで、化合物の同定・定量・配向性、薄膜の膜厚・粗さ、粒径・空孔径分布などの情報が得られる。本装置では、各種ミラー・ステージ・オプションにより、様々な測定に対応可能である。
※初めて申請される方は、事前に担当者までお問い合わせ下さい。

仕様
メーカー
Panalytical
型式
Empyrean
導入年度
令和1年

(主な仕様)

X-ray
Cu:45 kV、40 mA
Mo:60kV、50mA
Optics
Cu:BBHD、Focusing Mirror、Hybrid Monochro2xGe(220)、Lens
Mo:Focusing Mirror、Hybrid Monochro2xGe(220
Detector
Prop(0D)、GaliPIX3D(1D,2D)、PIXcel3D 2x2(0D,1D,2D)
Stage
Ref/Trans Spinner、3-axes(Chi-Phi-Z) Cradle +X-Y translation、Capillary Holder
Option
DCS500(-180~500 ℃)[ref]、HTK1200N(RT~1200 ℃)[ref,trans]、ScatterX78[trans]
Software
Data Collector、HighScorePlus、XRD 2D Scan、AMSS、EasySAXS、PDF Databases(PDF-4+)
  • 利用するには、放射線業務従事者登録が必要です。
担当者

横山利彦センター長
小林玄器准教授[ gkobayashi@ims.ac.jp ]
竹入史隆助教
藤原基靖技術職員[ fujiwara@ims.ac.jp ]
0564-55-7476(藤原)

[設置場所:実験棟210号室]


[支援形態/単価]


成果
公開
大学
官公庁
協力研究 無料
施設利用 無料
技術代行
民間 施設利用 31000円/日
技術代行
所内 施設利用 無料
成果
非公開
民間 施設利用 62000円/日
技術代行

    −: 支援なし