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[ Bruker Dimension XR Icon NanoElectrical ]
形状測定、機械特性測定、電気特性測定、ケルビンプローブ測定に特化した走査プローブ顕微鏡を用いた共同研究を行います。

[ Bruker Dimension XR Icon NanoElectochemical ]
電気化学測定に特化した走査プローブ顕微鏡を用いた共同研究を行います。

仕様  
メーカー
Bruker

(主な仕様)

型式
Bruker Dimension XR Icon NanoElectrical
導入年度
令和元年度
走査範囲
XY:> 85 µm, Z:> 9 µm
ノイズフロア
0.035 nm以下
試料サイズ
最大直径200 mm, 厚さ15 mm
自動ステージ
駆動範囲:180 x 150 mm 繰返し精度:3 µm
高解像CCDカメラ
5メガピクセル (デジタルズーム)
測定モード
形状測定、機械特性測定(位相モード、水平力顕微鏡モード、フォースカーブモード、ピークフォースマッピングモード等)、電気特性測定、ケルビンプローブ測定、光照射、磁場印加
付属装置
密閉型大気非曝露測定用ボックス
型式
Bruker Dimension XR Icon NanoElectochemical
導入年度
令和元年度
走査範囲
XY:> 85 µm, Z:> 9 µm
ノイズフロア
0.035 nm以下
試料サイズ
最大直径200 mm, 厚さ15 mm
自動ステージ
駆動範囲:180 x 150 mm 繰返し精度:3 µm
高解像CCDカメラ
5メガピクセル (デジタルズーム)
測定モード
形状測定、機械特性測定(位相モード、水平力顕微鏡モード、フォースカーブモード、ピークフォースマッピングモード等)、電気化学原子間力顕微鏡動作、走査型電気化学顕微鏡動作
付属装置
密閉型大気非曝露測定用ボックス
担当者

横山利彦センター長
湊丈俊主任研究員[ minato@ims.ac.jp ]
上田正技術員
杉本敏樹准教授
0564-55-7330(湊)

[設置場所:実験棟106-108]

Bruker Dimension XR Icon NanoElectrical
Bruker Dimension XR Icon NanoElectochemical

[支援形態/単価]


成果
公開
大学
官公庁
協力研究 無料
施設利用
技術代行
民間 施設利用 要相談
技術代行 要相談
所内 施設利用 無料
(協力研究として)
成果
非公開
民間 施設利用 要相談
技術代行 要相談

    −: 支援なし