XMCDは、UVSOR BL4Bを用いた極低温高磁場X線磁気円二色性測定システム。薄膜作製用試料準備槽つき。利用エネルギー200-1000 eV，試料温度5-60 K，磁場±5 T (±7 Tまで一応可能)。作成した薄膜等を大気に曝すことなくそのまま元素選択磁性測定したい場合に有効です。

UVSOR-III BL4B (100-1000eV円偏光)
超伝導磁石はJANIS社製7THM-SOM-UHV (±7T, 5K)、
試料作製槽 LEED/AES、蒸着などを装備

解良聡施設長
横山利彦教授 ［ yokoyama@ims.ac.jp ］
小板谷貴典助教 [ koitaya@ims.ac.jp ]
山本航平助教
石山修特任研究員
0564-55-7345（横山）

［支援形態／単価］

　　−：　支援なし