静電半球型アナライザーを用いた機能性材料の価電子バンド構造測定システム。
ディフレクターを使用することで2次元波数空間マッピングを行うことが可能。
薄膜作製用真空チェンバー、試料表面処理チェンバー（電子衝撃加熱、通電加熱、Ar+スパッタが可能）、電子線回折装置、劈開機構を利用することができるため、 様々な機能性材料の測定に対応。

光電子分光装置（光電子分析器、真空紫外光源、試料冷却機構、真空チェンバー）
光電子分析器 エネルギー分解能1meV以下、
角度精度0.1度以下、空間分解能 10ミクロン以下
真空紫外光源 希ガス共鳴線（主として、21.218 eV, 40.814 eV)
試料冷却機能 温度範囲 8-300K
真空チェンバー 測定槽真空度7x10-9Pa以下

解良聡教授
田中清尚准教授［k-tanaka@ims.ac.jp］
0564-55-7203

[設置場所：実験棟216]

［支援形態／単価］

　　−：　支援なし