• 当研究所が所有する最先端の研究設備・機器を利用する機会を産学官の研究者に提供します。また、共同研究(協力研究)、機器利用(施設利用)、技術代行、技術相談などを通じて、従来にはない機能や優れた特性を持った有機・無機材料・金属系ナノ材料の探索・開発のための分子・物質合成、構造解析、分子設計などを支援します。
優れた研究成果が生まれる
  • データの解析や学術的な議論を含めて担当教員と共同で行います。
低料金で研究開発費を抑制
  • 利用者の方が自身で測定します。データの解析や議論は利用者が独自に行います。
    ※オペレーショントレーニング等は受けられます。
利用者の代わりに操作
  • 実験・測定を実施機関の技術支援者に依頼して行います。
    ※事前に測定条件等の相談が必要です。
専門家がアドバイス
  • 技術支援者等と実験、測定について検討します。
     

  • 下記の支援を実施します。各支援の詳細は支援名をクリックするとご確認いただけます。
    (技術的な相談は担当者へ直接ご連絡ください。)
支援要素名
設備(設備群)名
仕 様
担当者 支援形態
成果公開型 成果
非公開型
大学官公庁 民間 所内 民間
協力
研究
施設
利用
技術
代行
施設
利用
技術
代行
施設
利用
施設
利用
技術
代行
電子顕微鏡
 
電界放出形走査電子顕微鏡
JEOL社製 JSM-6700F
 試料2インチまで
横山利彦センター長
石山修特任研究員
外山亜矢技術支援員
 
低真空分析走査電子顕微鏡
日立ハイテクノロジーズ社製 SU6600
 ショットキー型電子銃
 空間分解能1.2nm(30kV)、3.0nm(30kV)
 低真空機能 EDS(BrukerAXS社製 FQ5060/XFlash6)
横山利彦センター長
石山修特任研究員
上田正技術員
外山亜矢技術支援員
 
電界放出形透過電子顕微鏡
JEOL社製 JEM-2100F
 試料3mmφ以内
横山利彦センター長
伊木志成子特任専門員
上田正技術員
売市幹大技術員
   ○ ●   ● ● 
走査プローブ顕微鏡  走査プローブ顕微鏡
Bruker社製 Bruker Dimension XR Icon NanoElectrical
Bruker社製 Bruker Dimension XR Icon NanoElectochemical
横山利彦センター長
湊丈俊主任研究員
上田正技術員
杉本敏樹准教授
    要相談 要相談   ○(協力研究として) 要相談 要相談
X線   単結晶X線回折(CCD-1)
Rigaku社製 MERCURY CCD-1・R-AXIS IV
 Mo線源、CCD検出器、N2ガス吹付温度可変装置

単結晶X線回折(CCD-2)
Rigaku社製 MERCURY CCD-2
 Mo線源、CCD検出器、N2ガス吹付温度可変装置
横山利彦センター長
岡野芳則技術員
       
単結晶X線回折(微小結晶用) Rigaku社製 HyPix-AFC
 Mo線源、半導体検出器、N2/Heガス吹付温度可変装置 
横山利彦センター長
岡野芳則技術員
      ○*  
結晶スポンジ法を用いた分子構造解析
Rigaku社製 XtaLAB P200
 Mo/Cuデュアル線源、PILATUS200K検出器、100K〜室温温度可変
Rigaku社製 SuperNova
 Mo/Cuデュアル線源、Atlas S2 CCD検出器、100K〜室温温度可変
藤田誠卓越教授
横山利彦センター長
三橋隆章特任助教
 ○     要相談 要相談   要相談 要相談
粉末X線回折
Rigaku社製  RINT-UltimaIII
 Cu線源、集中・平行ビーム光学系、シンチレーションカウンター
横山利彦センター長
藤原基靖主任技術員
宮島瑞樹技術員
       
オペランド多目的X線回折
Panalytical社製 Empyrean
 Cu・Mo線源、半導体検出器、反射/透過スピナーステージ他
横山利彦センター長
小林玄器准教授
竹入史隆助教
藤原基靖主任技術員
宮島瑞樹技術員
     ●  
X線溶液散乱計測システム
Rigaku社製 NANO-Viewer
 高輝度X線発生装置 RA-Micro7
 2次元検出器 PILATUS200K
横山利彦センター長
秋山修志教授
向山厚助教
       
電子分光  機能性材料バンド構造顕微分析システム
光電子分光装置(光電子分析器、真空紫外光源、 試料冷却機構、真空チェンバー) 
解良聡教授
田中清尚准教授
       
X線光電子分光
Scienta光電子分光装置(光電子分析器R4000L1、Al-Kα単色X線源MX-650、真空紫外光源VUV5k、中和電子銃、グローブボックス)
横山利彦センター長
小板谷貴典助教
山本航平助教
石山修特任研究員
       
電子スピン共鳴
Bruker社製 E680
 W-band(94GHz)、ハイブリッド磁石(超伝導6T,常伝導3.5T)、3.8-300K
 Q-band パルスENDOR &ELDOR
 X-band パルスENDOR
横山利彦センター長
中村敏和チームリーダー
浅田瑞枝技術員
上田正技術員
藤原基靖主任技術員
宮島瑞樹技術員
伊木志成子特任専門員
         

Bruker社製 EMX

 X-band(CWのみ)
 マグネット: -50G~1.45T、
 温度可変:3.8−300K、100-300K、RT−500K
 共振器:高感度、デュアル

Bruker社製 E500
 マグネット:-50G~1.45T 
 X-band(CWのみ)、3.8−300K、1.5-300K、ENDOR
 Q-band(CWのみ)、4−300K
       
SQUID
SQUID型磁化測定装置
QuantumDesign社製 MPMS-7
 ±7T、1.8−400K、300-800K、DC
QuantumDesign社製 MPMS-XL7
 ±7T、1.8−400K、DC&AC、EDC
横山利彦センター長
中村敏和チームリーダー
浅田瑞枝技術員
藤原基靖主任技術員
宮島瑞樹技術員
伊木志成子特任専門員
       
熱分析    示差走査型カロリメーター(溶液)
MicroCal社製 VP-DSC
  1−130 ℃、500 µl
横山利彦センター長
長尾春代特任専門員
売市幹大技術員
       
等温滴定型カロリメーター(溶液)
MicroCal社製 PEAQ-ITC
 2−80 ℃、200 µl
MicroCal社製 iTC200
 2−80 ℃、200 µl
       
熱分析装置(固体、粉末)
Rigaku社製 DSC8231/TG-DTA8122 
横山利彦センター長
藤原基靖主任技術員
宮島瑞樹技術員
       
質量分析  MALDI-TOF質量分析
Bruker社製 Microflex LRF
横山利彦センター長
売市幹大技術員
藤川清江技術支援員
       
分光
顕微ラマン分光
RENISHAW社製  inVia Reflex
 波長:488,532,633,785nm、測定範囲: 100-3200cm-1
 分解能: 面内1μm, 深度2μm、温度: 4-350 K
横山利彦センター長
売市幹大技術員
       
FT遠赤外分光
Bruker社製 IFS66v/S
 10-12000cm-1
       
蛍光分光
HORIBA社製 SPEX Fluorolog 3-21
  250−1500nm
横山利彦センター長
上田正技術員
       
紫外・可視・近赤外分光光度
SHIMADZU社製 UV-3600Plus
  185-3300 nm
       
絶対PL量子収率測定装置
HAMAMATSU社製 Quantaurus-QY C11347-01
  300-950 nm
       ●  
円二色性分散
JASCO社製 J-1500
  165-1100nm
横山利彦センター長
売市幹大技術員
藤川清江技術支援員
       
レーザー ピコ秒レーザー
Spectra-Physics, Quantronix社製 Millennia-Tsunami, TITAN-TOPAS
横山利彦センター長
上田正技術員
               
高磁場 NMR
 
1H 800MHz溶液
Bruker社製 AVANCE 800US 
 溶液、クライオプローブ
横山利彦センター長
加藤晃一教授
矢木真穂助教
谷中冴子助教
磯野裕貴子技術支援員
       
1H 600MHz固体
Bruker社製 AVANCE 600
 固体
横山利彦センター長
西村勝之准教授
       
1H 600MHz溶液
JEOL社製 JNM-ECA600 
 溶液
横山利彦センター長
長尾春代特任専門員
売市幹大技術員
       
○:無料 ●:有料 ○*:無料(寒剤費実費)