支援要素名 |
設備(設備群)名 仕 様 |
担当者 | 支援形態 | |||||||
成果公開型 | 成果 非公開型 |
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大学官公庁 | 民間 | 所内 | 民間 | |||||||
協力 研究 |
施設 利用 |
技術 代行 |
施設 利用 |
技術 代行 |
施設 利用 |
施設 利用 |
技術 代行 |
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電子顕微鏡 |
電界放出形走査電子顕微鏡 JEOL社製 JSM-6700F 試料2インチまで |
横山利彦センター長 石山修特任研究員 外山亜矢技術支援員 |
○ | ○ | ● | ● | ○ | ● | ● | |
低真空分析走査電子顕微鏡 日立ハイテクノロジーズ社製 SU6600 ショットキー型電子銃 空間分解能1.2nm(30kV)、3.0nm(30kV) 低真空機能 EDS(BrukerAXS社製 FQ5060/XFlash6) |
横山利彦センター長 石山修特任研究員 上田正技術員 外山亜矢技術支援員 |
○ | ○ | ● | ● | ○ | ● | ● | ||
電界放出形透過電子顕微鏡 JEOL社製 JEM-2100F 試料3mmφ以内 |
横山利彦センター長 伊木志成子特任専門員 上田正技術員 売市幹大技術員 |
○ | ○ | ● | ● | ○ | ● | ● | ||
走査プローブ顕微鏡 | 走査プローブ顕微鏡 Bruker社製 Bruker Dimension XR Icon NanoElectrical Bruker社製 Bruker Dimension XR Icon NanoElectochemical |
横山利彦センター長 湊丈俊主任研究員 上田正技術員 杉本敏樹准教授 |
○ | 要相談 | 要相談 | ○(協力研究として) | 要相談 | 要相談 | ||
X線 | 単結晶X線回折(CCD-1) Rigaku社製 MERCURY CCD-1・R-AXIS IV Mo線源、CCD検出器、N2ガス吹付温度可変装置 単結晶X線回折(CCD-2) Rigaku社製 MERCURY CCD-2 Mo線源、CCD検出器、N2ガス吹付温度可変装置 |
横山利彦センター長 岡野芳則技術員 |
○ | ● | ○ | ● | ||||
単結晶X線回折(微小結晶用)
Rigaku社製 HyPix-AFC Mo線源、半導体検出器、N2/Heガス吹付温度可変装置 |
横山利彦センター長 岡野芳則技術員 |
○ | ● | ○* | ● | |||||
結晶スポンジ法を用いた分子構造解析 Rigaku社製 XtaLAB P200 Mo/Cuデュアル線源、PILATUS200K検出器、100K〜室温温度可変 Rigaku社製 SuperNova Mo/Cuデュアル線源、Atlas S2 CCD検出器、100K〜室温温度可変 |
藤田誠卓越教授 横山利彦センター長 三橋隆章特任助教 |
○ | 要相談 | 要相談 | 要相談 | 要相談 | ||||
粉末X線回折 Rigaku社製 RINT-UltimaIII Cu線源、集中・平行ビーム光学系、シンチレーションカウンター |
横山利彦センター長 藤原基靖主任技術員 宮島瑞樹技術員 |
○ | ● | ○ | ● | |||||
オペランド多目的X線回折 Panalytical社製 Empyrean Cu・Mo線源、半導体検出器、反射/透過スピナーステージ他 |
横山利彦センター長 小林玄器准教授 竹入史隆助教 藤原基靖主任技術員 宮島瑞樹技術員 |
○ | ○ | ● | ○ | ● | ||||
X線溶液散乱計測システム Rigaku社製 NANO-Viewer 高輝度X線発生装置 RA-Micro7 2次元検出器 PILATUS200K |
横山利彦センター長 秋山修志教授 向山厚助教 |
○ | ● | ○ | ● | |||||
電子分光 | 機能性材料バンド構造顕微分析システム 光電子分光装置(光電子分析器、真空紫外光源、 試料冷却機構、真空チェンバー) |
解良聡教授 田中清尚准教授 |
○ | ● | ○ | ● | ||||
X線光電子分光 Scienta光電子分光装置(光電子分析器R4000L1、Al-Kα単色X線源MX-650、真空紫外光源VUV5k、中和電子銃、グローブボックス) |
横山利彦センター長 小板谷貴典助教 山本航平助教 石山修特任研究員 |
○ | ● | ○ | ● | |||||
電子スピン共鳴 |
Bruker社製 E680 W-band(94GHz)、ハイブリッド磁石(超伝導6T,常伝導3.5T)、3.8-300K Q-band パルスENDOR &ELDOR X-band パルスENDOR |
横山利彦センター長 中村敏和チームリーダー 浅田瑞枝技術員 上田正技術員 藤原基靖主任技術員 宮島瑞樹技術員 伊木志成子特任専門員 |
○ | ○ | ○ | |||||
X-band(CWのみ) マグネット: -50G~1.45T、 温度可変:3.8−300K、100-300K、RT−500K 共振器:高感度、デュアル Bruker社製 E500 マグネット:-50G~1.45T X-band(CWのみ)、3.8−300K、1.5-300K、ENDOR Q-band(CWのみ)、4−300K |
○ | ● | ○ | ● | ||||||
SQUID |
SQUID型磁化測定装置 QuantumDesign社製 MPMS-7 ±7T、1.8−400K、300-800K、DC QuantumDesign社製 MPMS-XL7 ±7T、1.8−400K、DC&AC、EDC |
横山利彦センター長 中村敏和チームリーダー 浅田瑞枝技術員 藤原基靖主任技術員 宮島瑞樹技術員 伊木志成子特任専門員 |
○ | ● | ○ | ● | ||||
熱分析 | 示差走査型カロリメーター(溶液) MicroCal社製 VP-DSC 1−130 ℃、500 µl |
横山利彦センター長 長尾春代特任専門員 売市幹大技術員 |
○ | ● | ○ | ● | ||||
等温滴定型カロリメーター(溶液) MicroCal社製 PEAQ-ITC 2−80 ℃、200 µl MicroCal社製 iTC200 2−80 ℃、200 µl |
○ | ● | ○ | ● | ||||||
熱分析装置(固体、粉末) Rigaku社製 DSC8231/TG-DTA8122 |
横山利彦センター長 藤原基靖主任技術員 宮島瑞樹技術員 |
○ | ● | ○ | ● | |||||
質量分析 | MALDI-TOF質量分析 Bruker社製 Microflex LRF |
横山利彦センター長 売市幹大技術員 藤川清江技術支援員 |
○ | ● | ○ | ● | ||||
分光 |
顕微ラマン分光 RENISHAW社製 inVia Reflex 波長:488,532,633,785nm、測定範囲: 100-3200cm-1 分解能: 面内1μm, 深度2μm、温度: 4-350 K |
横山利彦センター長 売市幹大技術員 |
○ | ● | ○ | ● | ||||
FT遠赤外分光 Bruker社製 IFS66v/S 10-12000cm-1 |
○ | ● | ○ | ● | ||||||
蛍光分光 HORIBA社製 SPEX Fluorolog 3-21 250−1500nm |
横山利彦センター長 上田正技術員 |
○ | ● | ○ | ● | |||||
紫外・可視・近赤外分光光度 SHIMADZU社製 UV-3600Plus 185-3300 nm |
○ | ● | ○ | ● | ||||||
絶対PL量子収率測定装置 HAMAMATSU社製 Quantaurus-QY C11347-01 300-950 nm |
○ | ● | ○ | ● | ||||||
円二色性分散 JASCO社製 J-1500 165-1100nm |
横山利彦センター長 売市幹大技術員 藤川清江技術支援員 |
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レーザー | ピコ秒レーザー Spectra-Physics, Quantronix社製 Millennia-Tsunami, TITAN-TOPAS |
横山利彦センター長 上田正技術員 |
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高磁場 NMR |
1H 800MHz溶液 Bruker社製 AVANCE 800US 溶液、クライオプローブ |
横山利彦センター長 加藤晃一教授 矢木真穂助教 谷中冴子助教 磯野裕貴子技術支援員 |
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1H 600MHz固体 Bruker社製 AVANCE 600 固体 |
横山利彦センター長 西村勝之准教授 |
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1H 600MHz溶液 JEOL社製 JNM-ECA600 溶液 |
横山利彦センター長 長尾春代特任専門員 売市幹大技術員 |
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